www.ssga.ru
ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННЫЕ ПРИБОРЫ И СИСТЕМЫ. ТЕОРИЯ И МЕТОДЫ ЭНЕРГЕТИЧЕСКОГО РАСЧЕТА

ТИТУЛ
ОГЛАВЛЕНИЕ

I Теория оптико-электронных приборов и системII Физические основы ОЭП систем астроориентации и навигацииIII Оптико-электронные локаторы. Тепловизионные системыIV Методы энергетического расчета оптико-электронных приборов и систем
Глава III  ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННЫЕ ЛОКАТОРЫ. ТЕПЛОВИЗИОННЫЕ СИСТЕМЫ

 © В.М. Тымкул,   Л.В. Тымкул

оглавлениепредисловие2425262728293031323334353637383940 список литературы

33. МЕТОДИКА РАСЧЕТА ПОРОГОВОЙ ТЕМПЕРАТУРНОЙ ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТИ ТЕПЛОВИЗИОННЫХ УСТРОЙСТВ. ТЕОРЕТИЧЕСКИЙ КРИТЕРИЙ ВЫБОРА ПАРАМЕТРОВ ПРИ ПРОЕКТИРОВАНИИ НОВЫХ ТЕПЛОВИЗОРОВ

Методика расчета пороговой разности температур ΔTпор тепловизионного устройства, эквивалентная схема которого приведена на рис. 33.1, заключается в следующем. Рассмотрим выражение для спектрального потока Фλ теплового излучения на чувствительном слое ИК приемника:

(33.1)

где Wλ – спектральная поверхностная плотность потока излучения объекта (спектральная освещенность, формируемая излучением объекта на входном зрачке объектива тепловизионного устройства);
A0 – площадь входного зрачка оптической системы;
τ0(λ) – спектральный коэффициент пропускания оптической системы;
α, β – угловые размеры чувствительного элемента приемника излучения.


Рис. 33.1. Эквивалентная схема тепловизионного устройства:
1 – объект; 2 – фон; 3 – оптическая система с эффективной площадью входного зрачка А0;
4 – чувствительный элемент линейчатого ИК приемника

Дифференциальное изменение потока в зависимости от изменения температуры объекта наблюдения можно выразить в виде:

(33.2)

Сигнал приемника, обусловленный дифференциальной разностью температур между объектом и фоном, можно получить, умножив выражение (33.2) на спектральную чувствительность Sλ:

(33.3)

так как спектральная чувствительность Sλ связана со спектральной обнаружительной способностью D*λ чувствительного элемента приемника зависимостью:

(33.4)

где un – среднеквадратичное напряжение шума приемника в полосе частот ΔfR электрического фильтра,
a, b – размеры чувствительного элемента приемника излучения,

то выражение (33.3) с учетом (33.4) принимает вид:

(33.5)

Интегрируя (33.5) по длинам волн, получаем следующую формулу для изменения выходного сигнала приемника при воздействии на него сложного по структуре излучения и изменения температуры:

(33.6)

В случае малых сигналов (33.6) можно представить в виде:

(33.7)

Тогда, используя (33.7), можно записать выражение для отношения «сигнал/шум»:

(33.8)

Так как ΔTпор определяется при (Δu/un) = 1, то из (33.8) имеем:

(33.9)

Рассмотрим определение ΔTпор по излучению абсолютно черного тела, то есть когда поверхностная плотность излучения Wλ определяется по функции Планка для светимости:

(33.10)

где С1 и С2 – постоянные в формуле Планка.

Так как в формуле (33.10) член , то выражение для производной принимает вид:

(33.11)

Тогда, подставив (33.11) в (33.9), для ΔTпор имеем:

(33.12)

Для упрощения процедуры интегрирования знаменателя выражения (33.12), воспользуемся следующим соотношением, полученным с привлечением данных работы [13] и формулы (33.4):

(33.13)

где Фn – пороговый поток приемника излучения;
S – интегральная чувствительность приемника излучения по эталонному источнику;
Kэ – коэффициент использования приемником излучения эталонного источника (Тэ = 500 К);
S(λ) – относительная спектральная чувствительность приемника излучения. Тогда, на основании (33.13), D*λ принимает следующий вид:

(33.14)

где – обнаружительная способность приемника излучения.

И наконец, подставив (33.14) в (33.12) и заменив пределы интегрирования на конечный интервал λ1 ... λ2 границы чувствительности приемника, получим следующую рабочую формулу для определения ∆Тпор [11]:

(33.15)

Для тепловизионных устройств, работающих при окружающей температуре, расчет ∆Тпор можно вести при следующих условиях:

1) Т = 293 К; С2 = 1,439·102 см·К; С1 = 3,74 · 104 вт·см-2·мкм4;
2) , где d – диаметр входного зрачка объектива тепловизионного устройства;
3) ; , где f ' – фокусное расстояние объектива;
4) ; где τd – время сканирования одного элемента разложения кадра, которое определяется по следующей формуле:

(33.16)

где n – число активных строк в подкадре;
k – число подкадров;
η – коэффициент использования развертки кадра;
Тэ – эффективное значение периода кадра;
А – число элементов в строке;
В – число строк в кадре;
Тк – полное время кадра;
fк – частота кадров.

Анализ выражения (33.15) показывает, что в нем функционально связаны параметры объекта, слоя атмосферы между объектом и прибором, оптической системы, приемника излучения и электронного тракта тепловизора. Поэтому, при проектировании тепловизоров, для расчета и выбора одних параметров составных звеньев тепловизора, при заданных других, соотношение (33.15) представляет собой теоретический критерий выбора параметров составных звеньев тепловизионной системы.


оглавлениепредисловие2425262728293031323334353637383940 список литературы
   

ТИТУЛ
ОГЛАВЛЕНИЕ

I Теория оптико-электронных приборов и системII Физические основы ОЭП систем астроориентации и навигацииIII Оптико-электронные локаторы. Тепловизионные системыIV Методы энергетического расчета оптико-электронных приборов и систем

Михайлов И.О.     miig@rambler.ru